SOC, DFT доминируют ЦМТ

Big Iron становится ближе к EDA, а небольшие игроки АТС глаз ДПФ

Балтимор - Изменение уносится на испытательном полу.

Похоже, что консенсус, здесь на 32-й Международной конференции испытаний.

Есть ряд выводов, которые можно извлечь из шоу этого года. Промышленности и экономического спада, по-видимому продолжаться и в 2002, если не больше, и никто не покупает тестеров. Затишье дало инженеров и управления, так время, чтобы подумать о новых способах тестирования устройств.

Корпорация Intel, давно чемпион функциональный тест, увидел свет структурные испытания после молитвы за снижения затрат тест, доверие к кредитованию других чипов "структурная усилия испытания. Все более широкое распространение комплексных систем на кристалле (SOC) конструкции, вызывает других посмотреть на этапе проектирования для испытаний (ДПФ) методов.

Начинающие усечения с целью захвата доли рынка с недорогими автоматизированного тестового оборудования (ATE) предназначены для структурного тестирования.

АТС большой компании - поставщики большой железный, - которые пересмотрела свои планы по структурной тестеров или никогда не имели их на дорожные карты для начала все-таки заигрывает с ДПФ, ввод партнерских отношений с компаниями EDA и пытается создать часто -говорил о связи между ДПФ и ATE.

Такое стремление партнера идет от чипов, что-то АТС поставщиков легко подтвердить. "Так или иначе, отрасль должна развиваться в направлении партнерства", сказал Фил Най, старшим инженером в IBM Корпорация микроэлектроники, Восточной Фишкилл, штат Нью-Йорк

Данные, полученные во время проектирования и производства, что во время испытания может быть взаимовыгодным, друг к другу, ускоряя время, затрачиваемое на проектирование принести на рынок. "Я думаю, мы должны делать лучше отслеживания данных мы имеем", сказал Най. "В отрасли, мы не очень хорошо собирать эту информацию".

Даже когда они продолжать эти партнерские отношения с компаниями EDA, АТС производителей приходится решать сложные вопросы разработки стандартов и что стандартизация: тест архитектуры, структурные испытания технологии, тестер язык программы или EDA / ДПФ программного обеспечения.

Было бы трудно навязать унифицированную, открытая архитектура АТС, потому что это архитектура, которая ставит перед собой разные марки АТС друг от друга, в соответствии с Риком Bourne, Catalyst продакт-менеджер Бостона пионером АТС компании Teradyne Инк Но он предполагает участие программного обеспечения в АТС / ДПФ связь становится стандартизированы, чтобы ссылка становится автоматизированным.

"Я думаю, что мы о 8 до 10 лет от клиентов подключить их разработке симулятора тестер ... и они написать тестовую программу себе:" Борн сказал, добавив, что тестер розетки могут быть стандартизованы, даже если архитектура не .

Традиционные АТС компании, а также пытается воспитывать своих клиентов о новых путей, чтобы воспользоваться сложный, дорогостоящий, лидирующий тестеров для того, чтобы уменьшить время цикла и, следовательно, затраты.

Пало-Альто, Калифорния основе Agilent Technologies Инк продемонстрировали способы одновременно тест SOC ядер на 93000 серии тестер использованием структурных методов тестирования и автоматической генерации тестовых последовательностей.

Одновременных испытаний также может быть проведено как мультисайтовой тесты на 93000 тестеров, тестирования нескольких устройств SOC сразу же, как и их ядер тестируются одновременно, объяснил Кэтлин Райан Kollitz, бизнес-менеджер по развитию (NYSE Agilent в: А) SOC модульного тестирования. Это может быть сделано на недорогие версии 93000, в соответствии с Agilent. "Вы можете купить этот недорогой тестер и вставить дорогие булавки, где они необходимы", Kollitz сказал.

И, несмотря на всю шумиху о ДПФ и структурных методов испытаний, то становится ясно, что эти технологии в настоящее время ограничены в своих приложениях для некоторых ядер SOC, таких, как с аналоговым или радиочастотной технологии. Ввод тест на чипе также поднимает проблемы энергопотребления и рассеивания тепла, которая обещает стать серьезной проблемой в ближайшем будущем.

Как сказал Джон Харрис, менеджер во всем мире тест для Корпорация IBM, писал: "С любой точки зрения, SOC это наихудший сценарий. ДПФ трудно, но ключевой частью решения, но это не решение проблемы. Это очень значительные проблемы в экономическом так и технически ", добавил он.

Затем Есть те, в тесте промышленности, что ставит под сомнение целесообразность более широкого использования структурных испытаний. Роджер Блтен, президент и главный исполнительный директор АТС поставщика LTX корпорации, сравнить испытание конструкции микросхем к созданию самолета, покачивая его и объявив его нужным летать, если ничего не падает.

"Я думаю, что наша промышленность находится на грани бросали в полотенце и щекотали частей, а их тестирования", Блтен вывод.