Сравнение ATPG и BIST - Разработка стратегии: Комментарий

TEST ЗАДАЧИ ПЕРЕД дизайнеров и производителей комплексного полупроводниковой продукции не являются новыми для отрасли.

Повышение давления с целью удовлетворения стоимость и время выхода на рынок с целью инновационных продуктов, минимизируя корпоративных расходов, необходимых для достижения этих целей обеспечить непростой задачей.

Требования для увеличения функциональности и инновационной дифференциации продолжать поддерживать внедрение дорогостоящих технологий и методов проектирования, которые в конечном итоге влияет на стоимость продукта, как в области проектирования и испытания.

Проблема усугубляется тем сегментированы организаций в цепи поставок продукции и развития различных целей этих организаций. Проблема в том, как решать вопросы финансовой границ в отношении требований к минимуму экономически дифференцированных продуктов в различных организационно окружающей среды.

Marketplace давление с целью разработки "следующая большая вещь" в том же или более низкой стоимости по сравнению с предыдущими продуктами создали корпоративных целей и мандатов для малых и крупных организаций развития.

SOC продукции размером в 2 миллиона на 4 миллиона логических вентилей в прошлом году, в настоящее время на шаре за 15 миллионов ворота, а некоторые даже до 25 миллионов ворот. Дизайн сложностей требуют пересмотра методов проектирования для обеспечения не только дизайн, но и успех своевременной проверки качества продукции и целостности, а влияние процессов проектирования.

Иерархическая подключи и играть SOC методов проектирования, особенностью которой возможность создать большой комплекс устройств, также должны сосуществовать с методами, которые позволили бы своевременно проверки проектируемого изделия. Традиционные подходы к достижению своевременной проверки тест структурно основаны встроенное средство тестирования методов, таких как SCAN / ATPG.

Хотя SCAN / ATPG служил промышленности также в оказании содействия разработке и производстве компании при проверке целостности быстрее, чем устройства с функциональными методами испытаний, технологии в настоящее время оспаривается увеличение сложности дизайна. Эта задача представляется как финансовую, так в тестовом затрат и технически с плоским методы проектирования.

Новые проекты должны учитывать тестового передние, чтобы обеспечить высокое целостности тестирование устройств. Потребность в высокой целостности тестирование требует способности структурных испытаний в соответствии иерархию методов проектирования и доставить на скорости испытания возможностей. SCAN / ATPG ставится под сомнение эти требования. Если SCAN / ATPG методы смогут решить проблемы с дизайном осуществления финансовых проблем для этих новых моделей по-прежнему остаются - время испытаний и тестирования стоимости.

По своей природе SCAN / ATPG требует вне кристалла хранения векторных и контроль тестовых данных. Это означает, Есть высшее Капитальные затраты, связанные с АТС для обработки и хранения данных число каналов SCAN требуется минимизировать время тестирования. В последнее время ATPG вектор методов сжатия данных были введены несколько компенсируется АТС хранения вектора. Эти методы оспаривается их способность обрабатывать иерархии и постоянно растущие размеры конструкции. Кроме того, средства диагностики и отладки может быть значительно сложнее, чем с обычными SCAN / ATPG.

SCAN / ATPG решения не повторного использования в средах, помимо производства полупроводников тест, который позволяет большой вертикальной многонациональных организаций от реализации вниз значение экономии. Так, например, повторное использование в производстве повторного борту не представляется возможным из-за отсутствия на уровне устройства АТС для контроля и выполнения теста.

Количество просмотров с более широких позиций бизнеса, стоимость чистых / стоимость профиля для решения на основе SCAN / ATPG не будут отражаться во всех участвующих организаций. Значение будет воспользоваться только определенного сегмента бизнеса и, возможно, сделать это за счет других участвующих организаций.

Корпоративные цели будут мандата широкое внедрение стоимости через сегменты, как эти крупные комплексные продукты дизайн стал более распространенным. Технологии, которые могут доставить это пособие будет перейти на передний план принятия. Технология, говорится о необходимости своевременной проверки и цель межорганизационных управления затратами и бесспорно, доступных сегодня. Эта технология является встроенное самотестирование (BIST) основе встроенного теста.

BIST основе встроенных тест дает возможность структурного тестирования и вместе с тем и за сложность и стоимость ограничения SCAN / ATPG. С BIST, тест полностью содержится в устройстве и может управляться с минимальным количеством сигналов и данных с АТС. BIST возможности могут сравниться методы проектирования иерархии и по сути представляет собой на-испытательной скорости. BIST методы проверенные и доступные для логики, памяти и смешанные схемы сигнала.

Время теста и АТС стоимость может быть эффективно управлять с BIST подходов. На скорости характер BIST уменьшает общее время тестера и полностью содержащиеся тест-набор на чипе уменьшает потребность в больших хранения данных на ATE. В совокупности эти факторы удалить компромисс времени тестер тестер расходов в уравнении управления расходами.

Значение, достигнутый на этапе изготовления продукта выходит за рамки развития организаций в верхнем и нижнем течении направлениях. Upstream, финансовую и техническую ценность опыта в проектно-конструкторских организаций за счет более быстрого осуществления раз и повторно тест иерархии в пределах этих крупных и сложных проектов. На выходе, возможность многократного использования BIST основе встроенное средство тестирования может доставить себестоимости на крупных вертикально интегрированных, многонациональных организациях по производству доски и тестовое приложение среды.

В вождения для достижения инновационных, дифференцированную продукцию при минимизации общей разработки и осуществления расходов, соображения, должно быть сделано, чтобы обеспечить максимальный возврат стоимости. В бизнесе, "строительство" решения зачастую влечет за собой минимизацию расходов мгновенной / значение, однако, свести к минимуму средняя стоимость / качество может оказаться наиболее эффективным подходом к доставить дифференцированной стоимости продукта на рынке.

Mukesh Mowji является вице-президентом по маркетингу логики Vision Инк Ранее он работал в LTX Инк Бостона и "Шлюмберже" ООО