Управление восстановления: изменить одну вещь - Заключительный Производство

В 2000 году продажи полупроводниковых nonmemory увеличилось примерно одну треть по сравнению с 1999 и АТС для этого сегмента увеличенной до 74 процентов.

Но всем известно, все изменилось в 2001 году, nonmemory доходов IC падения 30 процентов, а продажи АТС опустившись на две трети. Теперь в середине 2002 года, осторожный оптимизм видит IC производства выздоравливает. Применение технологии растут новые 3G сотовой, беспроводной доступ в Интернет и гигабитный автобусов данных. Эти технологии будут создавать шведского новых электронных потребительских товаров. IC разнообразия продолжают растягивать требования испытательного устройства.

Semiconductor производителей и субподрядчиков теперь просят: "Мы пережили спад - как мы можем управлять восстановления"? Одно IC производители должны сделать, это изменить то, что они ожидают от теста.

В прошлом, тестеры были отобраны для покрытия основных горячих семей устройства. В результате распространения тестер типов и низкая эффективность работы. Обычные оценки тестера всегда включены 3 факторов: насколько хорошо он может проверить свою часть, что расходы на испытания, когда я ударил производства, и как поставщика и инструмент помочь своему времени выхода на рынок. Новые реалии потребительских цен, SOC интеграции и все или ничего контракты требуют от изготовителей рассмотреть дополнительные критерии в производстве универсальность, дизайн-на-тест (ДПФ), поддержку и мультисайтовой потенциал.

Производство универсальность является основным (как легко можно настроить тест этаже в соответствии перемещение устройства потребности? Какое сочетание устройства и какие объемы будут необходимы в следующем месяце?) АТС системы должны быть оценены для устройства покрытия диапазона (сколько тестер типа нужны?) производство универсальность (как быстро может быть изменена инструментов в соответствии сдвиги?)

Есть несколько стратегий, которые АТС производители должны принять для обеспечения этой универсальности.

Тест-системы с открытой архитектурой, например, позволить третьим сторонам совместно и самостоятельно разработать тест решений, документов или программного обеспечения. Это, в свою очередь, обеспечивает АТС пользователям доступ к широкому кругу инструментов раньше, сокращая время выхода на рынок и увеличения охвата.

ДПФ поддержки другим методом, чтобы обеспечить универсальность. Как легко можно стратегии тестирования ручку SCAN 131, часто в скорости цифровой / аналоговый функциональные, а иногда и высокоскоростных порта тест? Хотя ДПФ дает более короткие сроки разработки, высшее вине охвата и обещание менее дорогих тестеров, стратегии тестирования, что сторонники цифровых только ДПФ приведет к еще один тестер типа на этаже и выше, количество вставок на многих устройствах.

Правда открытая платформа будет использовать архитектуру ДПФ в качестве базы с возможностью включить функциональный тест, либо аналоговый или цифровой, по мере возникновения потребности. Это позволяет IC органов увеличения л) и FT BIST использования, сохраняя возможность тестирования производительности необходимы новые процессы, новые устройства семей, или более требовательных клиентов.

Мультисайтовая тестирования также имеет важное значение. Путь ясен: кратчайший путь к лучшему экономика тест через мультисайтовой. Но мультисайтовой более контактный тестер и кол-во питания. Как быстро пользователи могут переходить от одного сайта к инженерной 4, 16, или более сайтов в параллель? А все независимые несколько доменов времени нужно? Сколько воздушных DSP там?

Как IC органам подготовить для восстановления, одно остается ясным: что-то изменится. Возможно, лучший способ справиться с этим изменением является изменение, как пользователи думают о испытания. Они должны выбрать следующую платформу тест основан на его способности к изменениям, т. е. его универсальность производства, DFT для SOC тестирования и мультисайтовой возможностей.

Иногда изменение одного может изменить все.

Фил Смит, менеджер по стратегическому маркетингу дивизион полупроводниковых тест Teradyne Инк.